На главную > 1 год > Январь

ГОСТ Р 8.698-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра


ПОЛНЫЙ ТЕКСТ ГОСТ Р 8.698-2010 (40 страниц)

Библиография

Обозначение ГОСТ ГОСТ Р 8.698-2010
Наименование на русском языке Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Наименование на английском языке State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer
Дата введения в действие 01.09.2010
Код ОКС 17.040.01
Количество страниц 40
Статус Действует

2007-2022 © ФГБУ «РСТ»


.
SpyLOG