На главную

ГОСТ Р 57394-2017

Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность


ПОЛНЫЙ ТЕКСТ ГОСТ Р 57394-2017 (46 страниц)

Библиография

Обозначение ГОСТ ГОСТ Р 57394-2017
Наименование на русском языке Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Наименование на английском языке Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Дата введения в действие 01.01.2018
Код ОКС 31.080.01;31.200
Количество страниц 46
Статус Действует

2007-2022 © ФГБУ «РСТ»


.
SpyLOG