|
|
ГОСТ Р 57394-2017
|
|
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
|
|
|
|
Библиография
Обозначение ГОСТ |
ГОСТ Р 57394-2017 |
Наименование на русском языке |
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность |
Наименование на английском языке |
Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation |
Дата введения в действие |
01.01.2018 |
Код ОКС |
31.080.01;31.200 |
Количество страниц |
46 |
Статус |
Действует |
|
|
|
| |