|
|
ГОСТ Р 59743.2-2022
|
|
Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта
|
|
|
|
Библиография
Обозначение ГОСТ |
ГОСТ Р 59743.2-2022 |
Наименование на русском языке |
Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта |
Наименование на английском языке |
Optics and photonics. Microlens array. Part 2. Test methods for wavefront aberrations |
Дата введения в действие |
01.03.2023 |
Код ОКС |
31.260 |
Количество страниц |
28 |
Статус |
Принят |
|
|
|
| |