>
2017 год
>
Апрель
ГОСТ Р 57394-2017
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
ПОЛНЫЙ ТЕКСТ ГОСТ Р 57394-2017
(46 страниц)
Библиография
Обозначение ГОСТ
ГОСТ Р 57394-2017
Наименование на русском языке
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Наименование на английском языке
Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Дата введения в действие
01.01.2018
Код ОКС
31.080.01;31.200
Количество страниц
46
Статус
Действует
2007-2022 © ФГБУ «РСТ»
.