Официальный портал Росстандарта Старая версия

Информируем, что старая версия сайта размещена по адресу oldprotect.gost.ru и будет доступна до 30.04.2026

ГОСТ 8.171-75

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

State system of ensuring the uniformity of measurements. Actual measures of the surface density for radiation thickness gauges. General specifications

Действует

Основные сведения

Обозначение

ГОСТ 8.171-75

Полное обозначение

ГОСТ 8.171-75

Заглавие на русском языке

Государственная система обеспечения единства измерений. Меры поверхностной плотности для радиоизотопных толщиномеров. Общие технические условия

Регистрация в фонде

Номер приказа

2546

Дата приказа

30.09.1975

Дата введения в действие

01.01.1977

Поисковые образы

Код ОКС

17.040.30

Ключевые слова

-

Область применения

Настоящий стандарт распространяется на меры поверхностной плотности, предназначенные для воспроизведения единицы поверхностной плотности листовых и ленточных материалов в диапазоне от 2 до 30000 г/м кв. на площади от 5 до 600 см кв

Ссылочные данные

Обозначение заменяемого(ых)

-

Обозначение заменяющего

-

Обозначение заменяемого в части

-

Обозначение заменяющего в части

-

Отменен в части

-

На территории РФ пользоваться

-

Сведения о разработчике

Технический комитет

-

Организация - Разработчик

-

Сведения о регистрации в МГС

Номер протокола МГС

-

Дата принятия в МГС

-