ГОСТ Р 59743.2-2022 Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта

Основные сведения

Обозначение

ГОСТ Р 59743.2-2022

Полное обозначение

ГОСТ Р 59743.2-2022 (ИСО 14880-2:2006)

Заглавие на русском языке

Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта

Регистрация в фонде

Номер приказа

616-ст

Дата приказа

13.07.2022

Дата введения в действие

01.03.2023

Дата введения в действие(примечание)

-

Поисковые образы

Код ОКС

31.260

Ключевые слова

оптика и фотоника, матрица микролинз, методы измерений аберраций волнового фронта

Область применения

Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волнового фронта матриц микролинз

Ссылочные данные

Обозначение заменяемого(ых)

-

Обозначение заменяющего

-

Обозначение заменяемого в части

-

Обозначение заменяющего в части

-

Отменен в части

-

На территории РФ пользоваться

-

Сведения о разработчике

Технический комитет

296 - Оптика и фотоника

Организация - Разработчик

Федеральное государственное унитарное предприятие «Научно-исследовательский институт физической оптики, оптики лазеров и информационных оптических систем Всероссийского научного центра «Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова» (ФГУП «НИИФООЛИОС ВНЦ «ГОИ им. С.И. Вавилова») и Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский Университет ИТМО» (Университет ИТМО)

Сведения о регистрации в МГС

Номер протокола МГС

-

Дата принятия в МГС

-