ГОСТ 24613.8-83
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage
Основные сведения
ГОСТ 24613.8-83
ГОСТ 24613.8-83
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Регистрация в фонде
2607
21.06.1983
01.07.1984
-
Поисковые образы
31.200
-
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный. Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора
Ссылочные данные
ГОСТ 22440.4-77
-
-
-
-
-
Сведения о разработчике
303 - Электронная компонентная база, материалы и оборудование
-
Сведения о регистрации в МГС
-
-