ГОСТ Р 57394-2017
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Integrated circuits and semiconductor devices. Methods of accelerated tests for non-failure operation
Основные сведения
ГОСТ Р 57394-2017
ГОСТ Р 57394-2017
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Регистрация в фонде
74-ст
27.02.2017
01.01.2018
-
Поисковые образы
31.080.01;31.200
интегральные микросхемы;полупроводниковые приборы;методы ускоренных испытаний на безотказность;кратковременные испытания;длительные испытания
Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупроводниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов (далее - изделий), предусматривающие форсирование режимов эксплуатации
Ссылочные данные
-
-
-
-
-
-
Сведения о разработчике
303 - Электронная компонентная база, материалы и оборудование
Акционерное общество «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (АО «РНИИ «Электронстандарт»); Федеральное государственное унитарное предприятие «Мытищинский научно-исследовательский институт радиоизмерительных приборов» (ФГУП «МНИИРИП»); Акционерное общество «Центральное конструкторское бюро «ЦКБ «Дейтон» (АО «ЦКБ «Дейтон»); Акционерное общество «Росэлектроника» (АО «Росэлектроника»)
Сведения о регистрации в МГС
-
-