ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
Основные сведения
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Регистрация в фонде
129-ст
23.03.2001
01.07.2002
Поисковые образы
31.200
контроль;дефекты;критерии;пассивация;металлизация;диффузия;соединения
Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов
Ссылочные данные
-
-
-
-
-
-
Сведения о разработчике
303 - Электронная компонентная база, материалы и оборудование
-
Сведения о регистрации в МГС
-
-