ПНСТ 501-2020
Нанотехнологии. Оценка надежности. Часть 2-1. Устройства фотоэлектрические нанотехнологические. Методы испытаний на стойкость к воздействию внешних факторов
Nanotechnologies. Reliability assessment. Part 2-1. Nano-enabled photovoltaic devices. Test methods for resistance to external factors
Основные сведения
ПНСТ 501-2020
ПНСТ 501-2020 (IEC TS 62876-2-1:2018)
Нанотехнологии. Оценка надежности. Часть 2-1. Устройства фотоэлектрические нанотехнологические. Методы испытаний на стойкость к воздействию внешних факторов
Регистрация в фонде
118-пнст
19.11.2020
01.01.2021
Поисковые образы
07.120;27.160
нанотехнологии, устройства фотоэлектрические нанотехнологические, оценка надежности, методы испытаний на стойкость к воздействию внешних факторов
Настоящий стандарт распространяется на нанотехнологические фотоэлектрические устройства (НФЭУ) и устанавливает методы их испытаний на стойкость к воздействию внешних факторов для оценки надежности. Настоящий стандарт распространяется на НФЭУ, используемые в качестве элементов для изготовления фотоэлектрических модулей в совокупности с другими элементами. Настоящий стандарт устанавливает стандартные условия испытаний, методологию представления данных для оценки надежности НФЭУ и стабильности технологических процессов. По результатам испытаний определяют стабильность характеристик в стандартных условиях деградации для количественной оценки стабильности нового технологического процесса. Процедуры, установленные в настоящем стандарте, разработаны для НФЭУ, но могут быть применены для других фотоэлектрических изделий и технологических процессов
Ссылочные данные
-
-
-
-
-
-
Сведения о разработчике
441 - Нанотехнологии
Автономная некоммерческая организация в области технического регулирования и аккредитации «ВНИИНМАШ» (АНО «ВНИИНМАШ»)
Сведения о регистрации в МГС
-
-