ГОСТ Р 71380-2024
Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Метод контроля закругленности края
Semiconductor and dielectric plates. Edge roundness control method
Основные сведения
ГОСТ Р 71380-2024
ГОСТ Р 71380-2024
Пластины полупроводниковые и диэлектрические. Метод контроля закругленности края
Регистрация в фонде
596-ст
13.05.2024
01.03.2025
-
Поисковые образы
33.060.99
пластины полупроводниковые и диэлектрические, калибр, методы контроля закругленности края
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые и диэлектрические пластины, применяемые для изготовления изделий электронной компонентной базы, и устанавливает метод теневой проекции для контроля закругленности края пластин на различных стадиях технологического процесса их изготовления
Ссылочные данные
-
-
-
-
-
-
Сведения о разработчике
303 - Электронная компонентная база, материалы и оборудование
Акционерное общество «Российский научно-исследовательский институт «Электронстандарт» (АО «РНИИ «Электронстандарт»)
Сведения о регистрации в МГС
-
-