ГОСТ 26222-86
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров
Ionizing-radiation semiconductor detectors. Methods of parameters measurement
Основные сведения
ГОСТ 26222-86
ГОСТ 26222-86
Детекторы ионизирующих излучений полупроводниковые. Методы измерения параметров
Регистрация в фонде
558
18.03.1986
01.07.1987
-
Поисковые образы
17.240
полупроводниковые детекторы ионизирующих излучений;методы измерения электрических параметров;методы измерения радиометрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые детекторы ионизирующих излучений (ППД) и устанавливает методы измерения их электрических и радиометрических параметров: темнового тока; емкости (гармонический и зарядовый методы); энергетического разрешения; энергетического эквивалента шума (метод непосредственного измерения и спектрометрический метод); энергетического эквивалента толщины метрвого слоя; дискретной чувствительности регистрации; средней частоты следования фоновых импульсов; радиационной помехоустойчивости; аналоговой чувствительности регистарции (статический и импульсный методы); времени нарастания сигнала; длительсности фронта нарастания сигнала. Стандарт не распространяется на ППД, изготавливаемые по ГОСТ 18398-81, а также на запоминающие ППД
Ссылочные данные
ГОСТ 17619-72;ГОСТ 26222-84
-
-
-
-
-
Сведения о разработчике
303 - Электронная компонентная база, материалы и оборудование
-
Сведения о регистрации в МГС
-
-