Официальный портал Росстандарта Старая версия

Информируем, что старая версия сайта размещена по адресу oldprotect.gost.ru и будет доступна до 30.04.2026

ГОСТ 18986.24-83

Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения

Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage

Действует

Основные сведения

Обозначение

ГОСТ 18986.24-83

Полное обозначение

ГОСТ 18986.24-83

Заглавие на русском языке

Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения

Регистрация в фонде

Номер приказа

2681

Дата приказа

24.06.1983

Дата введения в действие

01.07.1984

Поисковые образы

Код ОКС

31.080.10

Ключевые слова

-

Область применения

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения

Ссылочные данные

Обозначение заменяемого(ых)

-

Обозначение заменяющего

-

Обозначение заменяемого в части

-

Обозначение заменяющего в части

-

Отменен в части

-

На территории РФ пользоваться

-

Сведения о разработчике

Технический комитет

303 - Электронная компонентная база, материалы и оборудование

Организация - Разработчик

-

Сведения о регистрации в МГС

Номер протокола МГС

-

Дата принятия в МГС

-