ГОСТ Р 8.700-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
State system for ensuring the uniformity of measurements. Methods of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope
Основные сведения
ГОСТ Р 8.700-2010
ГОСТ Р 8.700-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
Регистрация в фонде
54-ст
05.04.2010
01.11.2010
-
Поисковые образы
17.040.01
твердые тела;поверхность;эффективная высота шероховатости поверхности;сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп;методика измерений
Настоящий стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. Настоящий стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м
Ссылочные данные
-
-
-
-
-
-
Сведения о разработчике
441 - Нанотехнологии
Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО "НИЦПВ"); Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук "Институт кристаллографии имени А. В.Шубникова"; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)"
Сведения о регистрации в МГС
-
-