ГОСТ, ГОСТ Р, ПНСТ
Стр. 673 из 2744 • Всего: 54880
| Обозначение | Наименование | Стр. | Статус |
|---|---|---|---|
| ГОСТ 18986.0-74 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения | 3 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.1-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока | 3 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.3-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока | 3 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.4-73 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости | 7 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.5-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения | 7 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.6-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления | 7 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.7-73 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда | 6 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.8-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления | 7 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.9-73 | Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления | 7 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.10-74 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности | 6 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.11-84 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь | 8 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.12-74 | Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода | 4 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.13-74 | Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора | 7 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.14-85 | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений | 11 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.15-75 | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации | 4 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.16-72 | Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока | 4 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.17-73 | Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации | 5 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.18-73 | Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости | 4 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.19-73 | Варикапы. Метод измерения добротности | 10 | ✓ Действует |
| ГОСТ 18986.20-77 | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим | 11 | ✓ Действует |
Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения напряжения стабилизации
Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации
Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим